Toshiba發布具備高速開機時間的小型光繼電器，幫助縮短半導體測試儀器的測試時間
日本川崎--(美國商業資訊)-- Toshiba Electronic Devices & Storage Corporation（「Toshiba」）推出「TLP3414S」和「TLP3431S」光繼電器，採用S-VSON4T[1]封裝，具有比Toshiba現有產品[2]更快的開機時間。TLP3414S的關斷狀態輸出端電壓額定值為40V/250mA，而TLP3431S的為 20V/450mA。今日開始出貨。
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這些新型光繼電器透過改進輸入端紅外線發光二極體的光輸出以及優化光電檢測器（光二極體陣列），實現了高效的光耦合，從而達成了高速的開啟時間，最快可達150μs。TLP3414S的開啟時間約比Toshiba現有產品TLP3414短50%，而TLP3431S的開機時間則比現有的TLP3431短62%。
此外，開啟狀態電阻會影響輸出開啟時的信號衰減（TLP3414S：最大3Ω，TLP3431S：最大1.2Ω），以及輸出關閉時會影響高頻信號洩漏的輸出電容（TLP3414S和TLP3431S典型值均為6.5pF），這些數值與現有的Toshiba產品[2]相當，並能提供穩定的信號傳輸。
這些新產品適用於半導體測試儀器中的針腳電子應用[3]，可在切換信號的同時，以高精度和高速測量被測設備（DUT）。
新產品採用小型S-VSON4T封裝，與Toshiba現有產品的VSON4封裝[4]相比，減少了大約20%的安裝面積。這有助於半導體測試儀器等設備的小型化。
Toshiba將持續提供滿足半導體測試儀器對更高性能和更快速度需求的產品。
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註： |
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[1] S-VSON4T封裝：1.45×2.0mm（典型值） |
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[2] Toshiba現有產品 TLP3414（額定值40V/250mA）和TLP3431（額定值20V/450mA），均採用VSON4封裝。 |
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[3] 針腳電子（PE）：用於為被測設備（DUT）提供電力和測試信號的介面電路，並用來判斷被測設備（DUT）輸出的信號。 |
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[4] VSON4封裝：1.45×2.45mm（典型值） |
應用領域
- 半導體測試儀器（高速記憶體測試儀、高速邏輯測試儀等）
- 探針卡
- 測量設備
功能
- 高速開啟時間：tON =150μs（最大值）
-
低開啟狀態電阻
TLP3414S RON =3Ω（最大值）
TLP3431S RON =1.2Ω（最大值） - 小型S-VSON4T封裝：1.45×2.0mm（典型值），t=1.3mm（典型值）
主要規格
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(Ta =25°C) |
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型號 |
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封裝 |
Toshiba名稱 |
S-VSON4T |
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尺寸(mm) |
1.45×2.0（典型值），t=1.3（典型值） |
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接觸類型 |
1-Form-A （常開） |
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絕對 最大 額定值 |
OFF狀態輸出端電壓VOFF (V) |
40 |
20 |
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ON狀態電流ION (mA) |
250 |
450 |
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|
ON狀態電流（脈衝）IONP (mA) |
750 |
1350 |
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工作溫度Topr (°C) |
-40至110 |
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隔離電壓BVS (Vrms) |
AC，60s， R.H.≤60% |
500 |
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耦合 電氣 特性 |
觸發LED電流IFT (mA) |
最大值 |
3 |
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|
ON狀態電阻RON (Ω) |
典型值 |
2 |
0.8 |
|
|
最大值 |
3 |
1.2 |
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電氣 特性 |
輸出電容COFF (pF) |
典型值 |
6.5 |
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開關 特性 |
開啟時間tON (μs) |
最大值 |
150[5] |
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|
關閉時間tOFF (μs) |
100[5] |
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|
樣品檢查與可用性 |
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註 |
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[5] TLP3414S測試條件：RL =200Ω，VDD =20V，IF =5mA，TLP3431S: RL =200Ω，VDD =10V，IF =5mA |
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Toshiba：小型光繼電器TLP3414S和TLP3431S有助於縮短半導體測試儀器的測試時間（圖片：美國商業資訊）